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边界扫描可测性设计及其VHDL描述

Boundary Scan Design for Testability and Its Description Language VHDL
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摘要 用传统方法测试高密集度SMT板是难以想象的,边界扫描可以解决这一问题。在这基础上讨论了边界扫描可测性设计技术及其硬件描述语言VHDL. Testing high density SMT boards with traditional methods can be a nightmare,but boundary scan can relieve this problem. This Paper discusses the design for testability with boundary scan and its hardware description language VHDL.
作者 郭学仁
出处 《桂林电子工业学院学报》 1995年第4期1-8,共8页 Journal of Guilin Institute of Electronic Technology
关键词 测试 可测性 边界扫描 表面安装技术 VHDL语言 test,testability,boundary scan,description language
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