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透射表面电离生成正离子的解析模拟

ANALYTICAL MODELING OF POSITIVE ION BEAM GENERATION THROUGH TRANSMISSION SURFACE IONIZATION
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摘要 基于Langmuir-Saha表面电离理论,推演一适用于透射表面电离过程的解析模型,包括系统导流系数的解析表述,中性粒子流密度公式的修正,空间电荷影响下的电离几率等,并给出了与透射型表面电离源实验结果的比较。 An analytical model with respect to the transmissive surface ionization process which included an analytical expression for the perveance of electrode system, the development relating to the estimation of neutral cesium flux and the probability for ionization in the effect of space charge regime is determined based on the Langmuir-Saha surface ionization theory and is compared with the experimental data depended a transmit-type surface ionization source.
出处 《北京师范大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 1995年第3期334-337,共4页 Journal of Beijing Normal University(Natural Science)
基金 国家自然科学基金
关键词 透射表面电离 电离几率 俘获几率 正离子 电离势 transmission surface ionization, probability for ionization, probability for capture,perveance porosity
  • 相关文献

参考文献4

  • 1缴桂跃.透射型表面电离源的研制[J].核技术,1995,18(2):112-116. 被引量:3
  • 2缴桂跃,Vacuum,1994年,45卷,9期,951页
  • 3缴桂跃,北京师范大学学报,1994年,30卷,2期,207页
  • 4缴桂跃,91229824.3,1991年

二级参考文献3

共引文献2

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