表面分析仪器和技术进展(一):XPS,UPS
出处
《国外分析仪器技术与应用》
1995年第4期10-19,共10页
Foreign Analytical Instrumentation
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1刘德中,薛正鏐.三种实用表面分析仪器的一些进展[J].国外分析仪器技术与应用,1989(3):27-33.
-
2白春礼.原子力显微镜的研制及应用[J].中国科学院院刊,1990,5(4):340-343. 被引量:15
-
3黄惠忠.表面分析仪器与技术进展:———四,扫描探针显微术(SPM)(上)[J].国外分析仪器技术与应用,1999(1):9-26. 被引量:6
-
4黄惠忠.表面分析仪器和技术进展:(三)XPS/AES组合[J].国外分析仪器技术与应用,1998(4):13-18.
-
5黄惠忠.论表面分析[J].现代仪器,2002,38(1):5-10. 被引量:5
-
6岛津表面分析仪器介绍[J].现代科学仪器,2001(4):61-61.
-
7黄惠忠.表面分析仪器和技术进展(三):SIMS,AFM[J].国外分析仪器技术与应用,1996(2):9-16. 被引量:1
-
8黄惠忠.表面分析仪器及其技术进展(二)——扫描探针显微学[J].国外分析仪器技术与应用,2001(2):8-16.
-
9游俊富,王虎,赵海山.扫描探针显微镜与分析测量仪器的组合应用[J].分析仪器,2004(3):1-3. 被引量:1
-
10黄惠忠.表面分析仪器和技术进展:一,XPS[J].国外分析仪器技术与应用,1997(3):12-13. 被引量:1
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