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包含微处理机或单片微型机的仪器设备的自测试与故障诊断 被引量:1

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摘要 本文论述包含微处理机或单片微型机的智能化仪器设备的自测试,自诊断(内部诊断)与故障诊断。给出了设计和实现自测试的一些准则与设计自诊断功能时考虑的一些问题。较详细地介绍了板上诊断法。
作者 刘家松
出处 《电测与仪表》 北大核心 1989年第3期3-9,共7页 Electrical Measurement & Instrumentation
  • 相关文献

参考文献3

  • 1刘家松.采用微处理器的仪器设备的自检与故障诊断[J]微电子学与计算机,1986(02).
  • 2林林.故障诊断的发展[J]计算机研究与发展,1983(06).
  • 3刘家松.采用微处理机的仪器设备内部诊断[J]电子技术,1983(05).

同被引文献1

引证文献1

二级引证文献2

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