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厚膜薄膜集成电路制造中的电阻测试技术

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摘要 在厚膜和薄膜集成电路的生产中,需要对大量的电阻或电阻网络进行修正和测试,如何进行精密而又快速的测试是一个值得研究的重要问题。本文将对开尔芬联接方式和电阻隔离测试技术、隐藏电阻测试方法等联接方式予以论述。
作者 陶世宏
机构地区 四川仪表六厂
出处 《电测与仪表》 北大核心 1989年第7期24-26,共3页 Electrical Measurement & Instrumentation
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