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半导体器件的过应力损伤 被引量:1

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摘要 半导体器件的过应力损伤问题是危害电子产品可靠性的首要问题。过应力损伤包括电过应力损伤、机械过应力损伤和过高温度损伤。为减少半导体器件在使用现场发生失效,提高经济效益,详细地介绍了半导体器件在使用过程中易发生的过应力损伤。
作者 邓永孝
出处 《航天工艺》 1995年第3期19-21,43,共4页
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