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霍耳效应原理测磁场时所引起的误差分析及其消除方法

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摘要用半导体在磁场中的霍耳效应原理直接测量磁场强度(或空间磁感应强度),在目前是二种应用很广泛的方法.如国内外厂家已生产的多种型号的高斯计等仪器,都是利用上述原理研制成的.我们在自行设计这方面的线路时,对一些引起误差因素及其消除方法作了分析和探讨.

作者刘昶丁柳纪虎

机构地区兰州大学物理系

出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1989年第6期42-43,17,共3页 Semiconductor Technology

关键词霍耳效应磁场测量误差消除

分类号 O441.5 [理学—电磁学]

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半导体技术

1989年第6期

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