出处
《机械工艺师》
CSCD
1995年第11期29-30,共2页
Machinery Manufacturing Engineer
同被引文献2
-
1高宏,李庆祥,薛实福,顾晓渝.高分辨率光学轮廓仪[J].仪器仪表学报,1995,16(2):135-139. 被引量：9
-
2毛起文.表面粗糙度的评定和测量[M].机械工业出版社,1991.51-56.
-
1刘冲,梁锡昌,彭东林.相移干涉测量理论的研究[J].机械工艺师,1998(9):28-29. 被引量：1
-
2张也晗,崔彤,张扬,王俊秋.表面粗糙度三维测量和评定的研究[J].计量与测试技术,2012,39(11):31-32. 被引量：6
-
3Joonku Hahn,Hwi Kim,Yongjun Lim,Eun-Hee Kim,Byoungho Lee.Spatial phase-shifting interferometry with compensation of geometric errors based on genetic algorithm(Invited Paper)[J].Chinese Optics Letters,2009,7(12):1113-1116. 被引量：2
-
4周明宝,林大键,郭履容,郭永康.用白光相移干涉增大表面形貌可测范围的研究[J].光学学报,2000,20(8):1065-1071. 被引量：3
-
5徐先锋,蔡履中,王玉荣,李代林.Accurate Phase Shift Extraction for Generalized Phase-Shifting Interferometry[J].Chinese Physics Letters,2010,27(2):131-134. 被引量：7
-
6胥宏,李波.基于相移干涉的显微镜薄膜厚度测量[J].工具技术,2009,43(10):98-100.
-
7LUO ZhiYong,LI ZhangHong.A new route for length measurement by phase-shifting interferometry[J].Science China(Physics,Mechanics & Astronomy),2012,55(4):599-604. 被引量：3
-
8刘晓军,高咏生.显微剪切干涉表面粗糙度轮廓测量[J].华中科技大学学报（自然科学版）,2004,32(7):70-71. 被引量：3
-
9惠梅,牛憨笨,李庆祥,徐毓娴,王东生.相移干涉显微术测量表面微观形貌[J].光学技术,2003,29(1):2-4. 被引量：3
;
