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基于微处理机的二极管反向恢复时间测试系统被引量：1

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摘要本文讨论了一个以TRR波形发生器、高速取样电路、微处理机系统等构成的二极管反向恢复时间(TRR)测试系统并相应作了误差分析.

作者汤骐

机构地区浙江大学电机系

出处《计量与测试技术》 1995年第6期29-31,共3页 Metrology & Measurement Technique

关键词反向恢复时间取样微机系统二极管

分类号 TP368.103 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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计量与测试技术

1995年第6期

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