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基于微处理机的二极管反向恢复时间测试系统
被引量:
1
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摘要
本文讨论了一个以TRR波形发生器、高速取样电路、微处理机系统等构成的二极管反向恢复时间(TRR)测试系统并相应作了误差分析.
作者
汤骐
机构地区
浙江大学电机系
出处
《计量与测试技术》
1995年第6期29-31,共3页
Metrology & Measurement Technique
关键词
反向恢复时间
取样
微机系统
二极管
分类号
TP368.103 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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