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异构ATE测试图形程序的移植研究

TEST PROGRAM MIGRATION BETWEEN HETEROGENEOUS ATE'S
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摘要 异构自动测试仪(ATE)之间的测试图形程序移植是一项难度很高的工作.通常采用的方法是对测试图形向量进行逐条直译.这样,如果在异构ATE测试图形语言之间找不到对应的语言成分,将导致实际有可能成功的移植失败.并且,即使这样移植成功,被移植的测试图形程序能够保证词法和语法的正确性,但在大多数情况下,这些程序仍不能在目标ATE上正确运行.本章在详细分析了传统移植方法后,提出一种基于异构ATE功能对等的移植方法,使测试图形程序在移植前后保持其意义的一致性.利用这种方法,可以大大提高测试图程序的可移植性. In the paper, a method which describes IC test program migration is presented. The method uses 'function equivalence theory' to evaluate Automation Test Equipment (ATE). The key contribution of the method is to interpret the test pattern correctly rather than translate the test pattern syntacticaly.
出处 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1995年第2期88-96,共9页 Chinese Journal of Computers
基金 国家"八五"重点科技攻关项目
关键词 集成电路 自动测试仪 测试图形程序 软件移植 CAT, IC test, test program migration, IC test software environment.
  • 相关文献

参考文献3

  • 1孙育宁,Proceedings of CAD/Graphics’93,1993年
  • 2孙育宁,1993年
  • 3杨乔林,1993年

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