期刊文献⁺

任意字段

题名或关键词

题名

关键词

文摘

作者

第一作者

机构

刊名

分类号

参考文献

作者简介

基金资助

栏目信息

基于Advantest T6500系列的USB2.0测试解决方案介绍

下载PDF

导出

摘要通用串行总线(USB)是现在应用很广的接口,本文首先对目前最常用的USB2.0接口进行简单的介绍,接着对USB2.0的一部分测试项目及在ATE上的测试方法进行简单的介绍。

作者孔争辉

机构地区爱德万测试上海分公司

出处《中国集成电路》 2005年第8期81-83,共3页 China lntegrated Circuit

关键词 USB 2.0接口串行总线测试 Advantest T6500系列

分类号 TP336 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

引文网络
相关文献

1测试测量：Advantest推出新型测试仪[J].中国电子商情,2005(7):72-72.
2惠瑞捷推出半导体行业首创可扩展测试机台[J].电子与电脑,2011(10):94-94.
3惠瑞捷推出可扩展测试机台系列-V93000 Smart ScaIe平台[J].中国集成电路,2011,20(10):9-9.
4胥京宇.惠瑞捷推出可扩展测试机台系列——V93000 Smart Scale[J].世界电子元器件,2011(11):74-74.
5再获日月光半导体多台订单惠瑞捷V93000 SOC测试平台装机数量达到2，500台[J].电子与电脑,2011(10):106-106.
6Advantest(Suzhou)Co.,Ltd..基于T2000的RFIC低成本测试解决方案[J].电子测试,2008,19(11):49-54.
7爱德万针对亚洲市场推出V93000 Dragon测试平台[J].今日电子,2012(7):65-65.
8T2000 EDA Linkaqe——SoC从设计到量产的整体解决方案[J].半导体行业,2009(1):54-57.
9吕克桥,徐建华.IMP数据采集系统及VBA编程在电站性能考核试验中的应用[J].电站系统工程,2007,23(3):57-58. 被引量：4
10宋子凯.MCP存储器从设计到大规模量产测试的完善解决方案[J].中国集成电路,2005,14(3):51-54.

中国集成电路

2005年第8期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...

;

使用帮助返回顶部