WaveScan:一种新的非向量测试方法

WaveScan:Vectorless-testing Technology

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摘要九十年代的电路板生产厂家,必须解决好两个主要问题:一是电路板的复杂程度和板所容纳的器件密度不断地增加;另一个就是必须缩短生产周期,降低成本。这样才能在电路板的国际市场竞争中生存发展。就电路板的生产工艺测试而言,这就要求更低廉的测试设备与设备运转费以及更短的测试编程时间。电路板的测试通常分为两类,即向量测试和非向量测试。向量测试靠输入不同的测试图形来检测电路板上数字器件的结构故障。

出处《今日电子》 1995年第1期107-108,共2页 Electronic Products

关键词电路板非向量测试测试

分类号 TN420.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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1岳欧.一种新的非向量测试方法[J].微电子测试,1994,8(4):33-34.
2毛成巾.印制板组件的在线测试及非向量测试[J].国外电子测量技术,1997,16(3):25-30.
3毛成巾.印制板组件的在线测试及非向量测试[J].微电子测试,1996,10(4):26-32.
4岳鸥.一种新的非向量测试方法──WaveScan[J].现代科学仪器,1994(4):20-21.
5张品福,张克善,王新生.电路板的非向量测试技术[J].电测与仪表,1997,34(5):11-14. 被引量：2
6陈国顺,马飒飒.印制电路板自动测试技术与发展[J].电子测试,1999,12(4):13-14. 被引量：1
7阙沛文.确保印制板质量的在线测试系统[J].国外电子测量技术,2003,22(3):13-14. 被引量：3
8张涛.高密度表面安装电路板的测试技术探讨[J].印制电路信息,1995,0(12):40-47.
9王学礼,李根乾,谭玉山.PCB测试技术研究进展[J].无线电通信技术,2000,26(5):27-30. 被引量：5
10Dan Romanchik,俞文野.正确选择SMT板的测试技术[J].印制电路信息,1995,0(11):24-27.

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