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可编程逻辑器件的部分穷举法测试 被引量:1

Testing PLD by Local Exhaustion Approach
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摘要 提出了一种部分穷举法,并配合单片机预处理系统,对可加密的PLD器件GAL芯片实现快速的全破译.在主机使用486PC机的情况下,对于任何逻辑加密编程的GAL芯片,最长分析时间不超过17min. A new metheod, Local Exhaustion Approach, is proposed. By which and with pro-processing system, fast full decoding of PLD device GAL with security cell is realized. For various enciphered GAL device, the maximum testing time is less than 17 minutes with 486 PC as mainframe.
作者 居悌
出处 《南京邮电学院学报》 北大核心 1995年第1期33-38,共6页 Journal of Nanjing University of Posts and Telecommunications(Natural Science)
基金 国家自然科学基金
关键词 可编程逻辑器件 部分穷举法 测试 programmable logic device, general array logic, encipher, decoding, local exhaustion approach
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