摘要
本文提出了一种故障诊断的非线性方程.该方程能对模拟电路内部故障与电路外部端口测量值建立映射关系.
A new fault diagnosis equation with a nonlinear form is provided in this paper.The mapping relationship between the internal fault of the analog circuit and the external terminal measurement of the circuit is established.
出处
《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第1期150-157,共8页
Journal of Shanghai Jiaotong University
基金
国家自然科学基金