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三维曲面非接触光电测量法 被引量:2

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摘要 1.引言 日趋激烈的国际性经济竞争,迫使各国的诸多公司、生产厂家采用CAD/CAM和FMS/CIMS来设计制造新产品。作为开发新产品的初始测量和测试等技术也随之显得越来越重要。因此,世界各工业发达国家都十分注重发展测量技术,尤其是曲面测量技术,并且正朝着发展测量加工一体化技术的方向迈进。 测量技术发展至今天,用于测量曲面的方法大致有:三坐标机测量法、全息测量法、摄影测量法、半球头测量法、光栅投影测量法、光外差测量法、电子经纬仪交绘测量法。
出处 《实验技术与管理》 CAS 1995年第3期16-19,21,共5页 Experimental Technology and Management
  • 相关文献

同被引文献3

  • 1王学军,硕士学位论文,1996年
  • 2施进发,全国第十届高新技术在仪器仪表中的应用学术交流会论文集,1995年,10,15页
  • 3蔡文贵.线阵CCD机及应用[J].电子技术应用,1992,18(9):16-18. 被引量:22

引证文献2

二级引证文献9

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