摘要
采用延长培养时间的低浓度对酸诱导及Brdu替代2~4个细胞周期的方法及染色体原位切口移位技术,对30例高发家族成员,24例低发家族成员及20例正常人进行脆性部位、SCE及DNaseI敏感区的观察分析。结果表明:高发家族的脆性部位和SCE检出率(6.90%;7.56±1.41)明显高于低发家族(3.50%;5.24±0.92)及正常人(3.20%;4.86±1.51)P<0.05。SCE发生在16个高发染色体位点上,多居于染色体G显带的浅带区并与脆性部位、癌基因位点及DNaseI敏感区有一定的相关性。
出处
《四川肿瘤防治》
1995年第4期3-6,共4页
Sichuan Journal of Cancer Control
基金
四川省卫生厅资助