内建自测试(BIST)简介上篇 原理(续)

附录线性反馈移位寄存器(LFSR)理论由于线性反馈移位寄存器在结构上简单而且相当规则,其移位性质容易与串行扫描结合起来,而且能够生成穷举和/或伪随机测试向量,所以在BIST中广泛应用。LFSR的典型元件是D触发器和XOR(异或)门。这里只涉及LFSR作为测试生成器和响应分析器时的性质。图A列出了两个典型LFSR。两者都用D触发器和线性逻辑元件(XOR门)。