FD-Ⅲ——一个数字电路层次式测试生成系统

本文介绍一个实用数字集成电路层次式测试图形自动生成(ATPG)系统——FD—Ⅲ。FD—Ⅲ的特点是把测试生成和电路设计结合起来,充分利用电路的层次式结构,借助于电路和功能块已有的测试和模拟结果,加快整个电路的测试生成。该系统能对由WorkView等CAD系统描述的层次式组合电路,同步时序电路进行ATPG。其故障模拟(FS)子系统能对包括异步模块在内的电路进行故障模拟、测试压缩,并给出优化的测试集及其性能指标。目前该系统已对Benchmark等复杂电路和一些实用组合、时序电路进行了测试生成。