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部分扫描法可测性设计
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摘要
本文对部分扫描法可测性设计进行了系统的分析,介绍了部分扫描法的最新进展,讨论了目前部分扫描法在集成电路设计应用中存在的问题,在此基础上提出了优化部分扫描可测性设计的方法。
作者
叶波
陈瑜华
郑增钰
机构地区
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
出处
《微电子测试》
1995年第2期3-7,共5页
关键词
部分扫描法
可测性
设计
集成电路
应用
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP206.1 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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