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PECVD Si_xN_y应力的研究 被引量:1

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摘要 氨化硅的应力严重制约着它的应用,本文较详细地介绍了PECVC出xN,薄膜应力的大小与制备工艺及条件的关系,从而揭示了能有效地抑制Si_xN_y应力的工艺途径。文中给出了大量测试数据,并提供了许多实物照片。
作者 俞诚
出处 《微电子技术》 1995年第5期19-27,56,共10页 Microelectronic Technology
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