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PECVD Si_xN_y应力的研究
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1
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摘要
氨化硅的应力严重制约着它的应用,本文较详细地介绍了PECVC出xN,薄膜应力的大小与制备工艺及条件的关系,从而揭示了能有效地抑制Si_xN_y应力的工艺途径。文中给出了大量测试数据,并提供了许多实物照片。
作者
俞诚
机构地区
中国华晶电子集团公司分立器件事业部
出处
《微电子技术》
1995年第5期19-27,56,共10页
Microelectronic Technology
关键词
氮化硅
应力
半导体薄膜技术
分类号
TN304.24 [电子电信—物理电子学]
TN304.055 [电子电信—物理电子学]
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微电子技术
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