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高压氧化技术在nMOS工艺中的应用
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摘要
要减小VLSI器件中的结漂移,需要较低的工艺温度。本文概述了高压氧化技术在MOS器件制造中的应用。本文描述了氧化的动力学。说明了高压氧化在MOS各氧化工序中的应用,包括场氧、栅氧、隔离氧化等;讨论了一种有广泛潜在用途的工艺,源漏注入后的多晶氧化;对高压退火也进行了探讨。
作者
E.Bussman
沈建波
出处
《微电子技术》
1995年第6期18-23,共6页
Microelectronic Technology
关键词
nMOS工艺
高压氧化
应用
分类号
TN432.05 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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