期刊文献+

高压氧化技术在nMOS工艺中的应用

下载PDF
导出
摘要 要减小VLSI器件中的结漂移,需要较低的工艺温度。本文概述了高压氧化技术在MOS器件制造中的应用。本文描述了氧化的动力学。说明了高压氧化在MOS各氧化工序中的应用,包括场氧、栅氧、隔离氧化等;讨论了一种有广泛潜在用途的工艺,源漏注入后的多晶氧化;对高压退火也进行了探讨。
出处 《微电子技术》 1995年第6期18-23,共6页 Microelectronic Technology
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部