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数模混合IC测试系统的新结构──双机组合系统

A New Structure of Digit-Analog Hybrid IC Testing System
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摘要 本文以“八五”四家攻关项目──数模混合IC测试系统研制为主线,给出了先进且造价低廉的新结构,并就其中的管脚电路、图形发生器等作进一步的介绍. A cheap and advanced digit-analog hybrid IC testing system as well as the pin circuit and pattern generator thereof are presented.
作者 林雨 种明
出处 《微机发展》 1995年第3期41-43,共3页 Microcomputer Development
关键词 混合集成电路 测试 双相组合系统 数-模转换器 High Speed High Precision Expandability
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