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光热辐射测量对簿层材料的无损检测

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摘要本文简要介绍了光热辐射测量技术对薄层复合材料检测的原理,并探测了胶合材料的粘结状态及单层样品的表面缺陷.用振幅和位相二个可测因子同时测量,提高了探测的可靠性.

作者周根元李佩赞

机构地区苏州大学

出处《无损探伤》 1995年第2期45-47,共3页 Nondestructive Testing Technology

关键词光热辐射测量无损检验薄层材料

分类号 TB302.5 [一般工业技术—材料科学与工程]

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无损探伤

1995年第2期

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