相控阵与机械式二维超声侧向及厚向分辨力的研究

二维扇扫的侧向及厚向分辨力一般劣于纵向,主要取决于探头发射的超声束的几何形状。作者设计了一种实验方法,分别对扇扫中相控阵和机械式断层的侧向及厚向进行测量,结果两者的厚向分辨力均劣于侧向,侧向分辨最佳均在3～5cm深范围,但以采用全数字输入信号处理的相控阵扇扫为佳。机械扇扫分辨力侧向与厚向之间的差别较相控阵小,但在近中场会使声靶产生畸变。在中远场,两种扇扫都将圆形声靶畸变为水平条状回声,不宜在此精确定量。