期刊文献+

注入氧形成的SOI结构中氧分布的模拟

Simulation of Oxygen Distribution in the Oxygen Implanted SOI Structure
下载PDF
导出
摘要 我们提出了一个用于模拟SIMOX注入分布的经验公式,用此公式对某些氧注入分布进行了模拟,其结果与有关理论计算及实验值相比符合较好.我们的经验公式既有一定精度又形式简单,非常适合于作为VLSI全工艺模拟器中的一部份. An emperieal formula to simulate the oxygen implanted distribution for SIMOX techniquehave been proposed.Using this formula,the simulation results are in good agreement with so-me experimental and former theoretical results. Our formula is both simple and accurate,which is suitable for using as a part of the VLSI complete process simulator.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1989年第7期514-518,共5页 半导体学报(英文版)
基金 国家自然科学基金
关键词 SIMOX 氧注入 注入分布 工艺模拟 SIMOX technique Oxygen implantation Implanted profile profile process simulation
  • 相关文献

参考文献1

  • 1K. Das,J. B. Butcher,K. V. Anand. Formation of buried oxide layers by high dose implantation of oxygen ions in silicon[J] 1984,Journal of Electronic Materials(4):635~654

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部