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发光二极管光轴测量的实验研究

A Study on the Optical Axis Measurement Test of LED
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摘要 提出对光电传感器使用的发光二极管进行光轴测量的必要性,并采用面积加权法对其进行测量。得到芯片位置变化及芯片加载电流变化对光轴位置的影响。 The necessity of measuring optical axis of LED for photoelectric sensor is introducedand the measurement of the optical axis with area weighted methed is done。 Finally,the optical axisplace affected by chip seat change and loading current change is obtained.
机构地区 渝州大学自电系
出处 《渝州大学学报》 1995年第1期11-14,共4页
关键词 发光二极管 光轴 测量 光电传感器 light emitting diode optical axis centre of light emitting area measurement
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献3

  • 1沈家树.旋转腐蚀法在光刻腐蚀中的应用[J]半导体光电,1988(01).
  • 2易明现代几何光学[M].
  • 3[日]青木昌治 编著,黄振岗.发光二极管[M]人民邮电出版社,1981.

共引文献6

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