摘要
本文报道9种新的含磷杂环化合物的电子轰击质谱(EIMS),并应用B/E、B2/E联动扫描及精确质量测量技术,探讨了该类化合物的质谱断裂机理,发现骨架重排及开环反应是该类化合物主要的质谱特征,而R2基因对重排过程有很大影响。
Fast Atom Bombardment Mass Spectra(FABMS) of four crown ether compounds 1 ̄4 and K+, Na+ forming adducting ions have been studied. For these adducting ions, in their FABMS, [M+K]+and [M+Na]+are intense,and may give the information about molecurlar weight exactly.
出处
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
1995年第4期4-9,共6页
Journal of Chinese Mass Spectrometry Society