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原子力显微镜在DNA研究中的应用 被引量：1

Application of Atomic force Microscope to the Study of DNA
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摘要 原子力显微镜作为一种新型的表面表征手段已经得到了各个方面的应用,本文探索了AFM在DNA表面结构中的研究方法,讨论了AFM在研究DNA中优势。 As a new surface characterization method, AFM has been applied into various aspects of science. The authors explored the way to research the surface structure by AFM and discussed the advantages of AFM in the DNA study.
作者 郭云昌 蔡颖谦 中岛秀郎
机构地区 岛津国际贸易(上海)有限公司市场部 南方医科大学珠江医院神经医学研究所 岛津制作所分析测量部
出处 《现代科学仪器》 2005年第3期71-72,共2页 Modern Scientific Instruments
基金 国家自然科学基金(30270491 10335070 30200051 29579293和10304011)资助
关键词 原子力显微镜 DNA 动态模式 扫描电镜 Atomic force microscopy DNA dynamic mode scanning electron microscope
分类号 TH742 [机械工程—光学工程]
  • 相关文献

参考文献12

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共引文献21

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引证文献1

二级引证文献1

现代科学仪器
2005年 第3期

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