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测试与测量

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摘要 NI推出8款全新USB 2.0高速数据采集设备;科利登发布Sapphire-DIO芯片量产测试解决方案;Aeroflex推出全面满足A-GPS定位功能的测试方案;KLA-Tencor推出先进晶圆检测系统。
出处 《电子设计应用》 2005年第9期138-138,共1页 Electronic Design & Application World
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