TiB_2/SiO_2纳米多层膜的微结构特征
Study on the microstructure of TiB2/SiO2 nano-multilayers
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2005年第4期273-273,共1页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
基金
上海市专利技术再创新项目(No.03725052).
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