期刊文献+

用高分辨电子能量损失谱方法(HR-EELS)研究铁电薄膜

Application of high resolution electron energy-loss spectroscopy to ferroelectric thin films
下载PDF
导出
作者 张敬民
出处 《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期342-342,共1页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society
  • 相关文献

参考文献4

  • 1Visinoiu A, Scholz R, Chattopadhyay S, Alexe M, Hesse D.Jpn J Appl Phys,2002,41:6633-6638.
  • 2Gaboriaud R J,Pailloux F,Guerin P,Paumier F. Thin Solid Films, 2003,441: 307-310.
  • 3Blaha P, Schwarz K, Madsen G K H, Kvasnicka D, Luitz J.WIEN2k, An Augmented Plane Wave + Local Orbitals Program for Calculating Crystal Properties Techn. Austria:University, Wien, 2001.
  • 4Ankudinov A L, Ravel B, Rehr J J, Conradson S D. Phys Rev B, 1998,58:7565-7576.

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部