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半导体激光器可靠性评估系统设计 被引量:1

Design of Semiconductor Laser Reliability Evaluation System
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摘要 介绍了一种基于单片机控制的可预置工作电流值、工作温度值的半导体激光器可靠性评估系统的软、硬件设计方法。该方法以89C51单片机为核心部件,通过闭环反馈控制系统对工作电流、工作温度进行比较、调整,提高系统精度。该可靠性评估系统可实时显示工作电流及工作温度值。 This paper describes the hardware and software design methodology for semiconductor laser burn-in equipment controlled by single-chip microcomputer. This equipment controlled by singlechip microcomputer could setup burn-in current and temperature, and use the feedback loop controlled system to compare and adjust the burn-in current and temperature, so that it has high accuracy. The equipment could display working current and temperature.
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第9期37-38,42,共3页 Semiconductor Technology
基金 国家863成果产业化技术研究项目资助(H010110310112)
关键词 单片机 半导体激光器 MOS管驱动电路 温度控制 microcomputer laser diode driving circuit of MOSFET temperature control
  • 相关文献

参考文献2

  • 1ENDRIZ J G, VAKILI M, BROWDER G S. High power diode laser arrays[J]. IEEE J Quant Electron,1992,28:952-965.
  • 2FRITZ W J . Analysis of rapid degradation in highpower (AlGa)As laser diodes [J ] . Quantum Electronics IEEE,1999, 26:68-74.

同被引文献2

引证文献1

二级引证文献3

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