摘要
前言计算机电离层层析X射线摄影法(CIT)根据△总电子含量(TEC)数据(Austen等人1988年)再现了电离层电子浓度分布的两维图象。Pryse和Kerley(1992年)、Pryse等(1993年)以及Raymund等(1993年)已经介绍了以前的计算机电离层层析X射线摄影法(CIT)实验结果。 1993年在美国中部地区开展的计算机电离层层析X射线摄影法实验有几个方面使其不同于先前的CIT实验:(1)该实验在5个月内进行,(2)实验结果与单站定位(SSL)系统相关,(3)该实验的主要目的是确定CIT的性能,为高频传播的各种应用提供必要的电离层参数的精确实时测量。
