ARL—3520AES电感耦合等离子体发射光谱仪疑难故障的分析与排除

Trouble Shooting and Fixing of Knotty Breakdown of ARL ICP-3520AES

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摘要介绍了在瑞士ＡＲＬ公司生产的ＩＣＰ—３５２０ＡＥＳ型电感耦合等离子体原子发射光谱仪上存在的一种疑难故障的分析与排除过程，对同类型仪器的故障分析有借鉴作用． The shooting and fixing of the knotty breakdown of a ARL ICP-3520AES is described.

作者方跃平徐盈

机构地区中国科学院水生生物研究所

出处《分析测试技术与仪器》 1996年第1期45-49,共5页 Analysis and Testing Technology and Instruments

关键词 ICP-AES 故障微处理器发射光谱 ICP-3520AES Breakdown Microprocessor Signal

分类号 O657.31 [理学—分析化学]

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分析测试技术与仪器

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