摘要
讨论ispLSI可编程器件测试方法和技术,介绍功能测试模型;提出了逻辑功能测试和时间延迟测试的实现方法。
This paper discusses the the method and technologies of ispLSI PLD, introduces the test mode of function. It presents a test method for logic function and timing delay.
出处
《计算机与数字工程》
2005年第9期85-88,共4页
Computer & Digital Engineering
