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光源宽度与干涉条纹可见度的关系 被引量:3

Relationship between width of light source and visibility of interference streak
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摘要 在双缝干涉实验中,所用光源若是有一定宽度的,则屏上干涉条纹的可见度将受到一定的影响.当宽到一定程度时,屏上干涉条纹的可见度将下降到不可观测的程度.推导出了屏上不可观测的情况出现时所用光源的最大允许宽度. The visibility of the interference streak on a distant screen will be affected when the light source there has a certain width in a double-slit interference experiment. The visibility of the interference streak on the screen will decline to invisible level. The paper derives the quantitative relation to maximum admitted width of the light source used when unobservable circumstance on the screen appears.
作者 王世平
出处 《山东大学学报(理学版)》 CAS CSCD 北大核心 2005年第5期85-87,112,共4页 Journal of Shandong University(Natural Science)
关键词 干涉条纹 光源宽度 可见度 光程差 interference streak width of light source visibility optical distance difference
  • 相关文献

参考文献4

  • 1Richard P Olenick, Tom M Apostol, David L Goodstein. Beyond the mechanical universe ( from electricity to modern physics ) [M]. California: California Institute of Technology,1995.
  • 2D埃尔韦尔 AJ波因顿 姚震黄译.应用物理学[M].上海:上海科学技术文献出版社,1981..
  • 3母国光 战元令.光学[M].北京:人民教育出版社,1978.628-630.
  • 4FS克劳福德 卢鹤绂译.波动学(下册):第3卷[M].北京:科学出版社,1981..

共引文献132

同被引文献30

引证文献3

二级引证文献1

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