纳米器件与材料的电气测量
被引量：1
Measurement of nano devices and material
出处
《今日电子》
2005年第10期45-48,共4页
Electronic Products
参考文献2
-
1吉时利公司第2475号应用指南-用4200-SCS型半导体特性测试系统实施电阻率及霍尔电压四探针测量
-
2低电平测量(第五版).1998年.吉时利仪器公司,Solon,OH
同被引文献3
-
1朱吉牧,章海军,张冬仙.AFM纳米加工系统设计[J].光学仪器,2005,27(2):76-79. 被引量：2
-
2李学海.PIC单片机实用教程[M].北京:北京航空航天大学出版社,2007.2.
-
3张冬仙,章海军,李博,黄峰.新型原子力显微镜的研制及其应用[J].光子学报,2002,31(1):50-54. 被引量：16
-
1睿励推出MIP系列等离子体去胶设备[J].电子工业专用设备,2012,41(10):65-65.
-
2李淑珍.电测技术监督[J].广西电力技术,1997,20(2):28-30.
-
3Valery Egorushkin,Natalia Melnikova,Nadezhda Bobenko,Alexander Ponomarev.Electronic and Transport Properties of Carbon Nanotubes with Impurities and Structure Disorder[J].Journal of Physical Science and Application,2012,2(7):224-232.
-
4航天科工国家重大科学仪器设备开发专项“20GSa／s宽带高速多功能示波器开发及应用”项目启动有望打破国外垄断[J].中国产业经济动态,2014(5):49-49.
-
5刘晶晶.安捷伦科技在2014中国科学仪器发展年会荣获多个奖项[J].中国食品,2014(10):124-125.
-
6吉时利发布用于纳米技术研究的免费测量软件[J].电子质量,2004(4):30-30.
-
7用于纳米技术研究的免费测量软件[J].今日电子,2004(4):53-53.
-
8LONG WangCheng,HU Jun,HE JinLiang,LIU Jun,ZENG Rong.Effects of manganese dioxide additives on the electrical characteristics of Al-doped ZnO varistors[J].Science China(Technological Sciences),2011,54(8):2204-2208. 被引量：3
-
9刘兰兰.澳大利亚科学家研发出轻型超级电容器[J].电源技术,2014,38(12):2213-2214.
-
10桂裕光.加强电学计量工作提高检定测试能力[J].技术监督与服务,1995(4):14-15.
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