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电子产品寿命检测中异常数据的检验

Testing for multiple outliers in life testing of electronic products
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摘要 讨论在电子产品的寿命数据中,对同时存在的异常大数据和异常小数据的检验方法,给出了一个明确的判别标准,并以一例说明其应用。 The test for life data of electronic products with upper outliers and lower outliers was discussed. A clear standard for distinguishing the outliers was given and was illustrated with an example.
作者 彭求实
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第5期10-13,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 指数分布 寿命检测 电子产品 异常数据 exponential distribution life testing electronic product multiple outlier
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献2

  • 1张进,中国统计年鉴,1990年,28卷,227页
  • 2Fang K T,Distribution in Statistics,1987年

共引文献3

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