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吉时利推出脉冲式半导体器件特性测量方案
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摘要
吉时利(Keithley)仪器公司日前宣布在4200型半导体特性分析系统中新增脉冲信号发生和测量功能,支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV(脉冲Ⅰ—Ⅴ)子系统更便于进行高介电(High—k)材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究,测量更加准确,产品投入市场更快。这是第一款商用化的集成了精确、可重复的脉冲和DC测量于一体的解决方案,而且使用非常方便。
出处
《电子测试(新电子)》
2005年第9期108-108,共1页
Micro-Electronics
关键词
半导体特性分析系统
测量方案
脉冲式
吉时利
器件特性
仪器设备
测量功能
信号发生
200型
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
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电子测试(新电子)
2005年 第9期
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