荧光灯环状炸头的断裂力学分析

对荧光灯封口肩上5～10mm处环状炸裂(简称炸头)产生的原因进行深入探讨,将已知的炸头原因归纳为三类:1.脆性断裂因素;2.应力疲劳因素;3.最低强度因素。分别对这三种因素进行理论分析并将应力疲劳和断裂力学理论应用于玻管炸裂的研究。