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薄膜全耗尽SOI门阵列电路设计与实现 被引量:1

Design and Development of TFD SOI Gate Array
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摘要 在Daisy系统上设计出通用性强、使用方便的SOI门阵列母版及门阵列电路,并采用1.5μmCMOS/SOI工艺在薄膜全耗尽SIMOX材料上得以实现,其中包括多种分频器电路和环形振荡器,环振可工作在2.5V,门延迟时间在5V时为430ps。 SOI gate array is designed in Daisy Design System and developed on thin film fully depleted SIMOX materials in 1.5μm CMOS/SOI technology.Some frequency dividers and ring oscillators are built on it.The propagation delay time is 430ps.We find that the gate array can work perfectly at Vdd=2.5V.
出处 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第2期46-49,共4页 Acta Electronica Sinica
关键词 门阵列 薄膜全耗尽 SOI SIMOX 薄膜电路 设计 Gate array,TFD,SOI,SIMOX
  • 相关文献

参考文献4

  • 1张兴,博士学位论文,1993年
  • 2魏丽琼,硕士学位论文,1993年
  • 3Chen J,1992年
  • 4张建人

同被引文献2

引证文献1

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