VNA与TDR：新千年的测量手段

VNAs and TDRs: taking the measure of the new millennium

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摘要尽管无源器件的概念很乏味,但要把有关器件测试的内容写下来,仍然会是厚厚的一本书或一系列长文章.鉴于一篇文章的内容有限,不可能容纳这么多内容,所以比较好的办法是在无源器件的茫茫大海中挑选一个小子集,或者是电子工程师测试有选择类型器件的少数几类仪器.

作者 Dan Strassberg

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出处《电子设计技术 EDN CHINA》 2005年第11期58-58,60,62,70,共4页 EDN CHINA

关键词 TDR VNA 测量器件测试设计师工具

1罗友哲,齐增亮,李鹏飞,雷云飞.高精度电压基准测试的问题及对策[J].电子技术与软件工程,2017(1):234-234. 被引量：2
2侯诣卓.以质量为前提——是对客户最大的保障[J].现代制造,2013(6):18-18.
3丁健.浅谈PLC控制系统的设计方法[J].电工技术（下半月）,2015(12):117-117. 被引量：1
4倪燮良,甘牛.高性能、经济型矢量网络分析仪[J].国外电子测量技术,1995,14(2):38-41.
5CHANG,J,徐执模.从用户的角度选择器件测试机械手[J].微电子测试,1992,6(3):42-46.
6王志强,葛国本,刘敏.ROM COPY在器件测试上的应用[J].微处理机,1989,10(1):33-36.
7林玉玲,崔建明.A/D、D/A转换器的自动化测试[J].桂林工学院学报,1999,19(3):246-250. 被引量：1
8韩熔.用汇能测试仪的UTDE开发AD和DA器件测试[J].电子元器件应用,2006,8(8):74-76.
9安立公司推出频率覆盖高达40 GHz的PC控制ShockLine^(TM) VNA系列[J].电子测量与仪器学报,2014,28(10):1170-1171.
10安立公司推出VectorStar系列高性能VNA仪表[J].中国无线电,2009(1):71-71.

电子设计技术 EDN CHINA

2005年第11期

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