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测试与测量

Test ＆ Measurement

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摘要用于多芯片测试的8通道QBIX选件，用于低速串行CAN和LIN测试的TDSVNM。

出处《电子设计技术 EDN CHINA》 2005年第11期134-134,共1页 EDN CHINA

关键词芯片测试测量 LIN CAN

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学] U463.6 [机械工程—车辆工程]

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电子设计技术 EDN CHINA

2005年第11期

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