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国产二次集成电路的主要失效模式及分析
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摘要
在总结了国产二次集成电路的主要失效模式的基础上,分析了其产生的原因,并针对反映的生产和使用中的问题提出了切实可行的建议。
作者
田耀亭
机构地区
航天工业总公司半导体器件失效分析中心
出处
《航天工艺》
1996年第2期33-35,共3页
关键词
集成电路
失效分析
工艺
分类号
TN430.6 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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1
田耀亭.
国产二次集成电路的主要失效模式[J]
.电子产品可靠性与环境试验,1997,15(4):22-24.
被引量:4
2
褚丽莉,孙勇,彭焕先,王宇.
混合集成电路高线性锁相鉴频模块的研制[J]
.辽宁工学院学报,2004,24(1):19-20.
被引量:1
3
黄福森.
NV-370录象机色度通道集成电路VEFC-007故障分析与检修[J]
.电视技术,1996,20(10):79-82.
航天工艺
1996年 第2期
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