期刊文献+

国产二次集成电路的主要失效模式及分析

原文传递
导出
摘要 在总结了国产二次集成电路的主要失效模式的基础上,分析了其产生的原因,并针对反映的生产和使用中的问题提出了切实可行的建议。
作者 田耀亭
出处 《航天工艺》 1996年第2期33-35,共3页
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部