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S15测试程序自动产生器的设计

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摘要 1 前言在测试系统上要开发一个数字电路测试程序,除了要研究、分析电路的功能、性能和进行测试程序的设计外,还需要经过下图所示的几个步骤:
作者 管泽武
机构地区 集成电路测试技术中心
出处 《微电子测试》 1996年第1期22-26,共5页
基金 "八五"-703-02-01测试程序的开发攻关专题
关键词 集成电路 S15测试程序 自动产生器 设计
分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学] TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献
微电子测试
1996年 第1期

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