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国军标器件3DG135的可靠性研究

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摘要 较详细地叙述了3DG135在可靠性研究过程中,技术攻关的主要内容及所采取的工艺措施,并给出三个检验批次认证的实验结果。
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1996年第2期16-18,共3页 Semiconductor Technology
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