利用先进技术降低开发和生产成本

当今的半导体制造商在生产规模和功能上都有空前复杂的芯片。为了加快量产步伐，缩短测试时间，降低测试成本，这些芯片正从各个方面挑战着传统的芯片测试方法。为了应对这些挑战，制造商们正在努力寻求一种更加有效的方法，以流畅设计到测试的转换，加速产品的验证和特性分析，高效低成本地进行产品测试。