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利用类X模系统分析方法计算RAID可靠性指标

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摘要 本文借助于可修复二模和三模系统的分析方法以及Markov过程,对廉价磁盘冗余阵列的可靠性指标进行了推导,适合于RAID1-RAID6六种阵列结构形式。
出处 《微型计算机》 北大核心 1996年第4期81-82,共2页 MicroComputer
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