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利用类X模系统分析方法计算RAID可靠性指标
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摘要
本文借助于可修复二模和三模系统的分析方法以及Markov过程,对廉价磁盘冗余阵列的可靠性指标进行了推导,适合于RAID1-RAID6六种阵列结构形式。
作者
孟令奎
高劲松
出处
《微型计算机》
北大核心
1996年第4期81-82,共2页
MicroComputer
关键词
模系统
RAID
可靠性
磁盘驱动器
分类号
TP333.35 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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微型计算机
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