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利用双折射原理测定坯釉应力方法的改进
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摘要
釉层应力与其双折射率成比例。根据试片厚度和釉层在正交偏光下的干涉色,可求得应力大小,但试片厚度及干涉色色序分界线的确定会引入一定误差。直接测定釉层的主折射率值Ng和Np。
作者
杨世源
李明德
郑旭
刘敏
机构地区
西南工学院四川
出处
《硅酸盐通报》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第2期61-62,共2页
Bulletin of the Chinese Ceramic Society
关键词
双折射
陶瓷制品
施釉
坯釉
应力
测定
分类号
TQ174.641 [化学工程—陶瓷工业]
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