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用电化学C-V技术研究Ga In P/GaAs异质结界面特性
被引量:
1
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摘要
本文用电化学C-V剖面技术研究了接近器件结构的n-nGa0.5In0.5P/GaAs同型异质结的界面特性,测量了载流子浓度分布,用多项式逐段拟合的方法,计算得到异质结界面电势差VΦ为491meV,界面固定电荷σ为-4.46×1011cm-2,并推算出导带差△Ec为126meV,相应于△Ec=0.28△Eg。
作者
朱文珍
机构地区
中国科学院半导体所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第4期56-58,共3页
Semiconductor Technology
关键词
异质结界面
导带差
电化学C-V
GAINP
砷化镓
分类号
TN304.052 [电子电信—物理电子学]
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被引量:2
半导体技术
1996年 第4期
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