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用电化学C-V技术研究Ga In P/GaAs异质结界面特性 被引量:1

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摘要 本文用电化学C-V剖面技术研究了接近器件结构的n-nGa0.5In0.5P/GaAs同型异质结的界面特性,测量了载流子浓度分布,用多项式逐段拟合的方法,计算得到异质结界面电势差VΦ为491meV,界面固定电荷σ为-4.46×1011cm-2,并推算出导带差△Ec为126meV,相应于△Ec=0.28△Eg。
作者 朱文珍
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1996年第4期56-58,共3页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

同被引文献5

  • 1陈效建,中国学术期刊文摘,1997年,9卷,1期,129页
  • 2Liu Y S,IEEE Electron Device Lett,1995年,16卷,11期,518页
  • 3虞丽生,半导体异质结物理,1990年,59页
  • 4Rao M A,J Appl Phys,1987年,61卷,2期,643页
  • 5张屏英,晶体管原理,1985年,30页

引证文献1

二级引证文献1

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